第七届中国二次离子质谱会议将于2018年10月9-12日在江苏省苏州市召开。本次会议由中国真空学会主办，中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所纳米真空互联实验站承办。会议将为我国二次离子质谱界的学术研讨、技术交流与合作提供平台，推动二次离子质谱的发展，促进二次离子质谱技术在各领域的应用，会议组委会热忱欢迎中国大陆、***地区以及海外从事二次离子质谱相关工作的专家学者和研究生前来参会，共襄盛举。 中国二次离子质谱会议自1993年以来，至今已经成功举办了六届，已经成为两岸三地以及海外专家二次离子质谱领域的盛会。第一届会议于1993年5月31- 6月5日在北京清华大学举行；第二届会议于1998年4月6-10日在北京清华大学举办；第三届会议于2005年1月15-10日在台湾新竹清华大学举办；第四届会议于2008年10月26-29日在北京中国矿业大学举办；第五届会议于2014年10月18-20日在北京中科院地质与地球物理研究所举办；第六届会议于2016年10月8-11日在大连中国科学院大连化学物理研究所举办；中国二次离子质谱会议旨在促进二次离子研究领域的学术交流，带动学科研究，为领域内专家学者搭建一个交流和展示的平台。欢迎大家参加第七届中国二次离子质谱会议并持续关注学术年会的信息。

研讨专题 1. 二次离子质谱仪器和理论； Fundamentals of SIMS theory and instrumentation; 2. 半导体/微电子科学中的表面和剖面分析； Surface and depth profile analysis for semiconductor and microelectronics; 3. 地球科学中的元素与同位素分析； Elemental and isotopic analysis in Geoscience; 4. 核科学中的微区分析和同位素分析 Micro- and isotopic analysis in nuclear science; 5. 材料的微区分析、表面分析和3D分析 Microanalysis, surface and 3D analysis in material science; 6. 生命科学和临床医学中质谱原位分析、质谱成像和单细胞质谱分析； SIMS in-situ analysis and imaging in medical and life science; 7. 环境科学中的微区和原位分析 Micro- and in-situ analysis in environmental science; 8. 微纳尺度样品的质谱分析 SIMS analysis for micro- and nano-scale samples; 9. 二次离子质谱的样品前处理方法和复杂样品分析 Sample preparation method for SIMS analysis; 10. 原子探针/质谱原位分析新技术 Atom probe and in-situ SIMS analysis; 11. 新型离子源（纳米/团簇）和后电离技术； New technology of ion sources and post-ionization; 12. 质谱成像数据分析、数据处理、数据融合和识别方法 Methods in SIMS data and image analysis